Microscopio elettronico a scansione
Il microscopio elettronico a scansione è un tipo di microscopio elettronico la cui tecnologia viene sviluppata a partire dal 1950 circa; i dispositivi più recenti possono arrivare fino a una risoluzione inferiore al nanometro (un milionesimo di millimetro), permettendo di ricavare informazioni molto più dettagliate rispetto a un comune microscopio ottico (che presenta comunemente una risoluzione massima nell'ordine delle centinaia di nanometri). Inoltre, se equipaggiato con un rilevatore per la spettroscopia a dispersione di energia (EDX), un SEM può essere utilizzato per determinare gli elementi presenti in un campione di cui non sia nota la composizione.

Il funzionamento del SEM si basa sull'interazione tra un fascio elettronico focalizzato sul campione e gli elettroni presenti negli atomi che costituiscono il campione stesso. Il risultato di tale interazione risulta nell’emissione di diversi segnali, principalmente elettroni (secondari e retro diffusi) e raggi X, che vengono poi analizzati dai diversi sensori.

Il microscopio elettronico a scansione, combinato alla spettroscopia EDX, costituisce ormai da molti anni uno strumento indispensabile per la ricerca in svariati settori scientifici, dalla scienza dei materiali alla biologia, poiché è in grado di fornire informazioni fondamentali difficilmente ottenibili con altre tecniche di indagine; tali informazioni possono essere utilizzate, ad esempio, al fine di valutare l’impatto derivante dall'introduzione di tecniche di processo innovative sulle caratteristiche dei prodotti. Da Agosto 2014 presso il MEMTI è presente un SEM JEOL 6010-LA fornito di sensore EDX. Lo strumento viene utilizzato sia per le attività di ricerca e formazione dell’Istituto sia come servizio per le aziende e le istituzioni del territorio che necessitano di analisi SEM e EDX lo sviluppo e il controllo dei propri prodotti e processi. 

Una dimostrazione del funzionamento dello strumento ed eventualmente un’analisi preliminare (SEM e EDX) viene effettuata gratuitamente per qualunque soggetto interessato.

Image
st.wwwsupsi@supsi.ch