Servizio di microscopia elettronica (SEM)
Servizio di microscopia elettronica (SEM)
Analisi di materiali al microscopio elettronico a scansione (SEM) JEOL 6010-LA equipaggiato con un rivelatore per la spettroscopia a dispersione di energia (EDX).

Il microscopio elettronico a scansione è un tipo di microscopio elettronico la cui tecnologia viene sviluppata a partire dal 1950 circa; i dispositivi più recenti possono arrivare fino a una risoluzione inferiore al nanometro (un milionesimo di millimetro), permettendo di ricavare informazioni molto più dettagliate rispetto a un comune microscopio ottico.

Il funzionamento del SEM si basa sull'interazione tra un fascio elettronico focalizzato sul campione e gli elettroni presenti negli atomi che costituiscono il campione stesso.
Il microscopio elettronico a scansione, combinato alla spettroscopia EDX, costituisce ormai da molti anni uno strumento indispensabile per la ricerca in svariati settori scientifici, dalla scienza dei materiali alla biologia, poiché è in grado di fornire informazioni fondamentali difficilmente ottenibili con altre tecniche di indagine; tali informazioni possono essere utilizzate, ad esempio, al fine di valutare l’impatto derivante dall'introduzione di tecniche di processo innovative sulle caratteristiche dei prodotti.

Da Agosto 2014 presso il MEMTI è presente un SEM JEOL 6010-LA fornito di sensore EDX. Lo strumento viene utilizzato sia per le attività di ricerca e formazione dell’Istituto sia come servizio per le aziende e le istituzioni del territorio che necessitano di analisi SEM e EDX lo sviluppo e il controllo dei propri prodotti e processi.

Una dimostrazione del funzionamento dello strumento ed eventualmente un’analisi preliminare (SEM e EDX) viene effettuata gratuitamente per qualunque soggetto interessato.

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st.wwwsupsi@supsi.ch