Eventi e comunicazioni
La microscopia a scansione elettronica: uno strumento per il controllo della qualità e lo sviluppo di prodotti innovativi
24 novembre 2015
Manno, Dipartimento tecnologie innovative, Galleria 2, Sala Primavera - ore 17.15
L’evento si propone di presentare le potenzialità della microscopia elettronica a scansione (SEM) e della spettroscopia a dispersione di energia (EDX), per lo sviluppo di processi e prodotti industriali.

Programma e relatori

  • 17.15 Saluto e benvenuto
    A. Nasciuti, Direttore ICIMSI SUPSI
  • 17.20 Introduzione all’analisi SEM / EDX
    P. Grianti, JEOL (Italia) S.p.A
  • 17.40 L’utilizzo dell’analisi SEM/EDX nello sviluppo di prodotti e processi innovativi
    A. Ortona, capo laboratorio materiali ibridi, ICIMSI SUPSI
  • 17.50 L’utilizzo dell’analisi SEM/EDX a supporto dell’R&D nei materiali polimerici
    A. Castrovinci, ricercatore ICIMSI SUPSI
  • 18.00 L'utilizzo dell'analisi SEM/EDX nel controllo qualità dei dispositivi medici
    L. Orlando, R&D Engineer, IBI SA
  • 18.10 Conclusioni e discussione
    G. Scocchi, ricercatore ICIMSI SUPSI

Iscrizione

Evento gratuito.
Per ragioni organizzative, iscrizione obbligatoria entro venerdì 20 novembre 2015, scrivendo a dti.fc@supsi.ch oppure compilando il form online.

Contatti
st.wwwsupsi@supsi.ch