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Surface Inspection System for Industrial Applications

Acronimo SISIA

Abstract Si tratta dello sviluppo di un microscopio a forza atomica, cioè di uno strumento di misura molto preciso per superfici industriali. La dimesione della superficie misurabile può raggiungere un millimetro quadrato e la risoluzione delle rugosità anche solo pochi nanometri (millionesimi di millimetro). Applicazioni sono la misura della porosità di lacche, la caratterizzazione della qualità di una superficie o la ricerca di difetti di superfici (come buchi causati dalla corrosione).

Enti SUPSI coinvolti Dipartimento tecnologie innovative
Laboratorio sistemi meccatronici

Persone coinvolte Ivan Furlan, Loredano Tognetti, Ivan Defilippis, Ralph Bernasconi, Roberto Bucher, Paolo Speranza

Responsabili Silvano Balemi

Data di inizio progetto 1 giugno 2002

Data di chiusura progetto 1 maggio 2005

 
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