Servizio di microscopia elettronica a scansione (SEM)
Servizio di microscopia elettronica a scansione (SEM)
Il servizio offre la possibilità di effettuare analisi in microscopia elettronica a scansione.

La tecnologia del microscopio a scansione elettronica (SEM) nasce nel 1950 circa ed il suo funzionamento si basa sull'interazione tra un fascio elettronico focalizzato sul campione e gli elettroni presenti negli atomi del campione stesso.

Il microscopio SEM, combinato alla spettroscopia EDX, costituisce da molti anni un riferimento per la ricerca scientifica in svariati settori, poiché è in grado di fornire importanti informazioni difficilmente ottenibili con altre tecniche di indagine (ad esempio microscopia ottica).

Gli ambiti di applicazione sono molteplici tra cui ricerca e sviluppo, controllo di qualità di processi e prodotti, misurazione di contaminanti, ecc.

Dal 2014 l'istituto MEMTI possiede in dotazione un SEM JEOL 6010-LA (comprensivo di analizzatore EDX) che viene utilizzato sia per le attività di ricerca dell'Istituto sia come servizio per le aziende e le istituzioni del territorio.

Per maggiori informazioni o per prenotare un'analisi fare riferimento ai dati a margine: verrete contattati al più presto. Qualora richiesto, è possibile supervisionare l’analisi tramite collegamento remoto.

Contatti
st.wwwsupsi@supsi.ch